金湖西亞自動化儀表有限公司

XY-LDW雷達物位計的詳細資料：雷達物位計適用于各種過程條件復雜的容器、儲罐、倉料等物位測量，適用于對液體、漿料、顆粒以及粉塵的物位進行接觸式連續測量，特別是應用在有粉塵、以及有揮發性物質存在的復雜環境下，且不受被測介質物理特性變化的影響。
產品測量原理：
雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度極高，發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。UPR系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術，可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
產品特點：
由于采用了先進的微處理器和獨特的EchoDiscovery回波處理技術，雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式，使得UPR系列雷達物位計適于各種復雜工況。如：高溫、高壓及小介電常數介質的測量等。

采用脈沖工作方式，雷達物位計發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境均無傷害。

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