東莞歐諾誼電子儀器有限公司

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HP4287A射頻測(cè)試儀
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·阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3kΩ
·在低試信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
·基本精度為1%
·高速測(cè)量:10ms
安捷倫HP4287A射頻LCR測(cè)試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上

對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)

行精確測(cè)量。
HP4287A精密LCR表為SMD感應(yīng)器及EMI過(guò)濾器生產(chǎn)線(xiàn)提供最優(yōu)異的方案，提供從1MHz至3GHz抗阻測(cè)量。
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