深圳市鼎極天電子有限公司

面銅測厚儀 CMI165

      CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界首款帶溫度補償功能的手持式面銅測厚儀。

    CMI165獨有的溫度補償功能確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響，儀器配有探針防護罩，確保探針的耐用性；配備探頭照明方便測量時準確定位。

產品特色：

—— 可測試高溫的PCB銅箔

—— 顯示單位可為mils，μm或oz

—— 可用于銅箔的來料檢驗

—— 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試

—— 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試

—— 配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭

—— 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試

產品規格：

——利用微電阻原理和獨有的溫度補償功能通過四針式SRP-T1探頭進行銅厚測量，符合EN 14571測試標準

——厚度測量范圍：化學銅：0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
                                                        電鍍銅：2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)

——儀器再現性:  0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

——強大的數據統計分析功能，包括數據記錄平均數、標準差和上下限提醒功能

——儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇

——儀器無需特殊規格標準片，可實現蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 mm

——儀器可以儲存9690條檢測結果（測試日期時間可自行設定）

——測試數據通過USB2.0實現高速傳輸，也可保存為Excel格式文件

——儀器為工廠預校準

——客戶可根據不同應用靈活設置儀器

——用戶可選擇固定或連續測量模式

——儀器使用普通AA電池供電