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X  射線熒光分析技術可以分為兩大類型：能量色散  X  射線熒光分析（  EDXRF  ，以下我們簡稱能量色散）和波長色散  X  射線熒光分析(WDXRF，以下我們簡稱波長色散）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（  Si-PIN  ）型和  SDD  型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點；以下將針對歐盟  ROHS  &  WEEE  指令的具體應用情況，對能量色散和波長色散進行比較和說明： 

儀器類型 

探測器

測量精度

測量時間

被測樣品要求

能量色散XRF

（  Si-PIN  ）型

20——50ppm

1——3分鐘

可以不規則形狀

波長色散XRF

（SDD  ）型 

200——300ppm

4——6  分鐘 

形狀需要制樣 

儀器類型

被測元素

熒光強度

技術復雜程度 

使用壽命

能量色散XRF

S-U(納優）

高

復雜

＞  10  年

波長色散XRF

重元素

低

簡單

＞  5  年

1  、測量精度：  盡管目前各家能量色散儀器（均為  Si-PIN  類型）生產商和銷售商都給出了很高的技術指標，但在實際應用中（特別在被測樣品不進行處理的情況下），真正可以期待的準確度都在  200~300ppm  之間（測量塑料中有害元素時，準確度會好一些；對不規則樣品，則精度會更差）；同時，對于同類型的儀器，進口儀器的指標和國產儀器之間并沒有本質差別（基本配置），但進口儀器的價格卻昂貴很多。波長色散測量準確度比能量色散類型要高一個數量級，基本在  20~50ppm  左右。 

          2  、測量時間：  由于波長色散配備較大功率的  X  光管，熒光強度高；因此，波長色散儀器占用較短的測量時間，便能達到較高的測量精度。 

          3  、被測量樣品的要求：  由于技術特點的差異，波長色散需要對被測量樣品進行簡單的處理；對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑，對粉末和其他樣品可以采用磨細后進行粉末壓片法處理，相應的設備市場上很容易找到。能量色散型儀器最大的優勢在于：可以對樣品不作特別復雜的處理而直接進行測量，對樣品也沒有任何損壞，適合直接用于生產的過程控制中；但需要強調指出的是：從熒光理論上講，被測量樣品的預先處理是必須的，對于能量色散儀器來說，我們可以采取一些技術手段進行校正來滿足實際生產控制的需要，但即使采用了技術校正的手段，對不規則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。 

        4  、最佳應用范圍：  由于波長色散和能量色散類型各自的技術特點，兩種類型儀器所側重的應用方案也不盡相同；波長色散具有較高的測量精度，但同時需要對被測量樣品進行簡單處理，更適用于進廠原材料、半成品、成品的精確檢測和質量控制；能量色散雖然測量精度稍差，但具有快速、直接測量各種形狀樣品的優點，因此可直接在生產線上用于各種部件、電子元器件的檢測。 

        5  、能量分辨率：  能量分辨率是儀器的主要指標，分辨率數值越小，分辨率越高，儀