三磊電子結合數十年的新產品研發經驗,研制的微焦點X射線數字顯微系統具有體積小、重量輕、集成度高、操作簡單等特點。 產 品 說 明 系統包含0.5微米微焦點X射線機、影像增強儀或數字成像板、多功能圖像分析軟件和多自由度載物臺。具有檢測速度快和放大倍數高(最高可達到1萬倍)等特點,是半導體界非破壞性檢查內部結構和缺陷最有效的工具之一。 應用范圍: 集成電路(IC)封裝中的缺陷,如:層剝離、爆裂、空洞以及引線的完整性檢驗。 印刷電路板制造中可能產生的缺陷,如﹕對齊不良或橋接。 傳感器檢驗。 晶圓式芯片封裝。 各式連接線路中可能產生的開路,短路或不正常連接的缺陷檢驗。 錫球陣列封裝及覆晶片封裝中錫球的完整性檢驗。 技術特性: ◆ 最大電壓:160KV ◆ 焦點尺寸:0.5μm ◆ 最大電流:500μA ◆ 放大倍數:2000~9000 ◆ 視野:153mm×153mm ◆ 最大尺寸:440mm×550mm ◆ 操作系統:WindowsXp ◆ 最大承重:5Kg 蘭州三磊電子有限公司是國內最早專業從事X射線數字成像設備開發、生產和銷售的高科技企業,擁有一支由博士、研究生等組成的高水平研發隊伍。公司成立13年來,堅持走產學研相結合之路,注重技術創新和自主研發,先后完成3項具有國際先進水平的科研成果,獲得了7項專利授權,倡導并參與制定了2項國家標準。產品廣泛應用于航空航天、軍工、鍋爐壓力容器、鋼管制造、長輸管線檢測、核工業、汽車、電力電子等多個行業。 電話:0931-8550365 8550366 8550285 傳真:0931-8550286 郵箱:info@sanlei.com 網址:www.sanlei.com www.sanleidz.com 詳情咨詢蘭州三磊電子。