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留壩722n可見分光光度計技術參數：●波長范圍：190～1100nm●光譜帶寬：2.0nm(5nm、1nm可選）●波長準確度：±0.5nm●波長重現性：≤0.2nm●透射比準確度：±0.3%τ(0～100%τ)±0.002A(0～0.5A

【激光系列產品】固體激光器半導體激光器氣體激光器離子激光器光纖激光器大功率光纖耦合激光器皮秒激光器飛秒激光器調Q脈沖激光器激光二極管控制器激光功率計激光護目鏡激光波長測量激光光束分析儀多通道激光功率計大功率激光器激光光束位置測量儀激光擴束

產品說明緊湊型熒光燈與管形熒光燈測試與測量選擇系統測量緊湊型熒光燈效率的全面解決方案設計靈活FSLMS系統滿足熒光燈和白熾燈的行業標準以及電氣光度測試方法。該系統包括驅動燈的交流電和直流電的電子裝置、用于燈和鎮流器電氣測試的功率計、用于測

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供應X射線熒光光譜儀（ROHS)通用型納優NaU1000詳細參數請來電咨詢，電話：15899538701（徐先生）QQ:806043286產品名稱：X射線熒光光譜儀（ROHS)產品型號：NaU1000品牌：納優主要配置●美國si-pin電

產品說明9150：1.5米高分辨率單色儀技術規格設計車爾尼一特納單人/雙人傳遞輸入焦距1500mm（單通）輸出焦距1500mm（單通）波長選擇高精度的波長選擇機動正弦驅動器技術0.02nm(1200l/mm)光譜范圍180nm-50μm掃

揭東可見分光光度計儀器功能：?光度測量可同時測量1～6個波長處的透過率和吸光度.?光譜測量在波長范圍內進行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描,并可進行各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等.?定量測量單波長、雙波長、三波長和多波長測定.

儀器介紹X射線熒光光譜儀（XRF）是我公司根據多年的RoHS檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足RoHS的成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成，該X射線熒光光譜儀（XRF）廣泛應用在電

產品說明薄膜測量薄膜厚度新澤西SaltPoint公司開發的薄膜監測系統(TDS)，在寬帶溶解率監測儀(DRM)中集成了一套海洋光學多通道光譜儀，用來分析半導體和光學工業中使用的超薄的抗蝕膜。DRM幫助客戶確定膜層的厚度以及應用抗蝕膜后的材

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