E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀，大批量E5070B安捷倫E5070B E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀，大批量E5070B安捷倫E5070B E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀，大批量E5070B安捷倫E5070B E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀，大批量E5070B安捷倫E5070B E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀，大批量E5070B安捷倫E5070B
Agilent E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了最快、最精確的射頻器件測量能力。其先進的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。 
300 kHz 至 3GHz 
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 
掃描速度：9.6微秒/點 
跡線噪聲：0.001 dB rms 
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力 
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式 
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA） 
測量向?qū)е周浖?br />

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                公司：深圳市邁凱瑞儀器儀表有限公司

                地址：深圳市龍華民治留仙大道2號天輔星大廈5樓501室

主要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
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測量向?qū)е周浖?br /> 要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
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測量向?qū)е周浖?br /> 要技術(shù)指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
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