青島帝中計(jì)量?jī)x器有限公司

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
三豐表面粗糙度/輪廓測(cè)量?jī)x SV-C3100大幅提高的驅(qū)動(dòng)速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測(cè)量時(shí)間。為了更長(zhǎng)時(shí)間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅(jiān)固的陶瓷導(dǎo)軌

詳細(xì)介紹



Formtracer(表面粗糙度/輪廓測(cè)量裝置)SV-C3100/SV-C4100 

簡(jiǎn)單介紹 
三豐表面粗糙度/輪廓測(cè)量?jī)x SV-C3100大幅提高的驅(qū)動(dòng)速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測(cè)量時(shí)間。
為了更長(zhǎng)時(shí)間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅(jiān)固的陶瓷導(dǎo)軌；驅(qū)動(dòng)器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此，在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動(dòng)測(cè)量、對(duì)較難定位部件的重復(fù)測(cè)量的重復(fù)精度得以提高。 

特長(zhǎng)：
本機(jī)為電動(dòng)型支柱，觸針式輪廓形狀、表面粗度量測(cè)兩用的復(fù)合機(jī)。
輪廓形狀量測(cè)用Z軸檢出器搭載Holographic光學(xué)尺（SV-C4100）、反射型光學(xué)尺（SV-C3100）。
表面粗度量測(cè)用Z軸檢出裝置，可對(duì)應(yīng)ISO/新JIS。
檢出器的滑動(dòng)部為2段式，可提升檢出器交換時(shí)的操作性。
資料處理軟體，可做高難度的輪廓形狀、粗度的評(píng)價(jià)解析。
資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。 

表面粗糙度測(cè)量

直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測(cè)量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L為驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)配置：高精度測(cè)頭(0.75mN/4mN測(cè)力)，分辨率高至0.0001μm。

 

自動(dòng)測(cè)量

在與CNC機(jī)型配套使用的眾多外設(shè)選件的支持下，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量。

 

輪廓驅(qū)動(dòng)測(cè)量

X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測(cè)量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L為驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度,H為測(cè)量高度(mm)

SV-C4100系列的輪廓驅(qū)動(dòng)器配備了激光全息測(cè)微計(jì)測(cè)頭，Z1軸寬／窄范圍均能達(dá)到極高的精度和分辨率。

 

基本技術(shù)參數(shù):

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

 主機(jī):140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主機(jī))

 

輪廓測(cè)量技術(shù)參數(shù):

X軸

 測(cè)量范圍:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 檢測(cè)方法:反射型線性編碼器

 驅(qū)動(dòng)速度:80mm/s、外加手動(dòng)

 測(cè)量速度:0.02-5mm/s

 移動(dòng)方向:向前／向后

 直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X軸為水平方向上

 直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

 精度(20°C時(shí))±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L為驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度(mm)

 傾角范圍:±45°

Z2軸(立柱)

 垂直移動(dòng):300mm或500mm

 分辨率:1μm

 檢測(cè)方法:ABSOLUTE線性編碼器

 驅(qū)動(dòng)速度:0-20mm/s、外加手動(dòng)

Z1軸(檢測(cè)器)

 測(cè)量范圍:±25mm

 分辨率:0.2μm(SV-C3100),

 0.05μm(SV-C4100)

 檢測(cè)方法:線性編碼器(SV-C3100),

 激光全息測(cè)微計(jì)(SV-C4100)

 直線