一、儀器介紹：

X-MET5100 手持式X射線熒光光譜儀通過硅漂移探測器
(SDD)
和
X 射線管的獨特耦合技術，手持式光譜儀保證了鋁及鈦合金的實驗室質量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是無與倫比的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。

硅漂移探測器
(SDD)、45
千伏
X 射線管和經驗系數分析方法的強大結合，意味著
X-MET5100
可以在短短
1 秒鐘內，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質可以得到準確測量，其速度之快，在從前是絕無可能的。在幾秒鐘之內，就可以得到
ppm
級的痕量元素檢測結果。



這款堅固的便攜式
XRF
輕元素測試工具，專為以下行業應用而設計：

 金屬材料可靠性鑒定（PMI）

 廢舊金屬回收行業

 環境重金屬監測（土壤和RoHS）

 航空和汽車工業

 礦石勘察、現場挖掘控制和礦山制圖

 



二、合金分類&廢舊金屬回收分揀的最佳工具：

X-MET5100 X射線熒光（XRF）光譜儀能夠以無與倫比的速度和檢測精度，提供高效可靠的實時檢測結果。

這種高效的便攜式檢測工具——對金屬回收、塑料回收、電子制品及木材回收而言必不可少
——率先實現在無需真空泵或氦氣罐附屬裝置的條件下，即可對6061/6063合金進行分揀。

 



 快速牌號鑒定，快速廢舊金屬分揀！

 1秒無損檢測，完成合金分類和質量控制！

 各種合金牌號的可靠鑒定，合金分類和牌號鑒定只需1秒！

 可靠的鋁Al、鎂Mg、硅Si、磷P分析，無需真空泵或氦氣罐；

 快速的鉻Cr、鎳Ni、鉬Mo、銅Cu分析，即使在低含量條件下；

 檢測下限低至ppm級；

 堅固耐用；經IP54
(NEMA 3) 認證，防塵、放潮防潮特高強度的環境密封型外殼，可經受所有天氣條件；

 電池可提供長效的操作時間，電池和用戶界面帶有電量指示器；

 “一鍵式檢測”，簡便可靠、儀器簡單易學；

 方便的數據存儲與輸出，基于
PDA
的技術的靈活性和簡便性。

 



X-MET5100 
將強大的輕元素檢測能力與
XRF技術的無損特性相結合，是航空航天業用于分析成品或敏感樣品以及檢測鎂、鋁、硅和磷等輕元素的寶貴工具。核電工業中的流速促進型腐蝕(FAC)檢測及汽車制造中微合金鋼的質量控制(QC)等具有挑戰性的痕量元素分析可在幾秒鐘內完成！

 

三、硅漂移探測器技術，大大提高生產力! 

最先進的
X-MET5100將牛津儀器的硅漂移探測器(SDD)
和強大的45千伏
X 射線管結合起來，顯示了儀器設計上的革命性突破。與普通設備相比，應用該項尖端技術能使測量速度提高5倍，進一步優化檢測極限并顯著提高測量精度。現在正是使用
X-MET
以提高您的生產效率和篩選分析結果可信度的時候。

 

四、三種分析模式選擇 

1、需精確檢測結果時可選擇可追溯的經驗系數法校準模式

  
可使用電腦軟件包（任選軟件）創建自定義經驗系數法校準曲線。

2、無標樣時可選擇基本參數校準模式

  
此通用型校準可測定原子序數從氯到鈾間的30多種元素
(X-MET5000)，鎂到鈾間的元素
(X-MET5100)
。

3、