東莞市源益電子有限公司

量測參數(shù) 以下任何參數(shù)皆可測試并顯示于ＬＣＤ： 電感模式 電感（Ｌ），電阻（Ｚ）， 直流電阻Ｒｄｃ及電容（Ｃ）。 適用串聯(lián)／并聯(lián)等效電路 Ｌｏｓｓ　ｔｅｒｍ：品質(zhì)因素（Ｑ）， 消散因素（Ｄ），交流電阻，相位角……等 Ｈａｎｄｉｅｒ模式 Ｅｎａｂｌｅｓ　ｅｘｉｓｔｉｎｇ　４－ｗｉｒｅ　ｓｃａｎｎｅｒｓ　ｔｏｂｅ　ｕｓｅｄ Ｆｕｎｃｔｉｏｎｓ　ａｓ　ｆｏｒ　ｉｍｐｅｄａｎｃｄ　ｍｏｄｅ　 Ｗｉｔｈ　ｔｈｅ　ａｄｄｉｔｉｏｎ　ｏｆ　ｔｕｎｓ　ｒａｔｉｏ 變壓器測試模式 各線圈之直流電阻，初級圈／次級圈之漏電感（Ｌｅａｋａｇｅ　ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ）及品質(zhì)因素（Ｑ），圈數(shù)比（ＴＲ），線圈間電容（ｌｎｔｅｒｗｉｎｄｉｎｇ　Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ）及漏電感（Ｌｅａｋａｇｅ　ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ）另可搭配絕緣測試功能（選購）。 通訊測試模式 提供插入損失（ＩＬ）及反射損失（ＲＬ）測試功能，適合于通訊用匹配變壓器ｓｐｅｅｃｈ　ｂａｎｄ（１００Ｈｚ　ｔｏ　２０ＫＨｚ）．可選擇的ｌｉｎｅ　ｉｍｐｅｄａｎｃｅ（Ｚｏ）及ｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ（Ｒｔ）值，并可設(shè)定額外的模擬阻抗及電容。 圓形分析模式 可在量測模式下以頻率或ＡＣ電壓為掃描基準(zhǔn)，來執(zhí)行圓形掃描度顯示結(jié)果。可選擇以ｌｉｎｅａｒ或ｌｏｇ為座標(biāo)。 多頻率測試模式 可在量測模式下設(shè)定量測參數(shù)及測試條件，最多８種不同的測試頻率，ＰＡＳＳ／ＦＡＩＬ提示功能設(shè)定（依一般值或百分比）。 測式條件 低電壓信號位準(zhǔn) 適用于量測Ｌ＋Ｑ，Ｌｓ＋Ｒｓ， Ｃ，Ｚ，Ｔｕｒｎｓ　Ｒａｔｉｏ及Ｌｅａｋａｇｅ　 Ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ 頻率范圍 ２０Ｈｚ　ｔｏ　３ＭＨｚ（測試ｌｎｔｅｒｗｉｎｄｉｎｇ　Ｃ時(shí)低點(diǎn)為１ＫＨｚ） 頻率波段 Ｌｎｃｒｅｍｅｎｔｓ　ｏｆ　１％　ｏｒ　ｂｅｔｔｅｒ　ａｃｒｏｓｓ Ｒａｎｇｅ　１２００　ｆｒｅｑｕｅｎｃｉｅｓ　ａｐｐｒｏｘ 精準(zhǔn)度　±０．０１％ 信號位準(zhǔn) 內(nèi)阻５０Ω １ｍＶ　ｔｏ　１０Ｖ　ｒｍｓ　ｉｎｔｏ　ｏｐｅｎ　ｃｉｒｃｕｉｔ　 ５０ｕＡ　ｔｏ　２００ｍＡ　ｒｍｓ　ｉｎｔｏ　ｓｈｏｒｔ　ｃｉｒｃｕｉｔ ＡＬＣ　ｍａｉｎｔａｉｎｓ　ｌｅｖｅｌ　ａｐｐｌｉｅｄ　ｔｏ　 ＤＵＴ　ａｔ ±２％，±１ｍＶ　ｏｆ　ｓｅｔ　ｖｏｌｔａｇｅ　ｏｒ ±２％　±０．１ｍＡ　ｏｆ　ｓｅｔ　ｃｕｒｒｅｎｔ ＤＣ　ｂｉａｓ　直流偏壓電流 內(nèi)建１ｍＡ　ｔｏ　１Ａ　ｄｃ，全頻率快速設(shè)定 安全保護(hù)開關(guān)設(shè)計(jì) 直流電阻測試 低電壓信號位準(zhǔn)　　１００ｍＶ 短路電流　　１０ｍＡ 絕緣測試（選購） 測試電壓選擇　１００，２００　ｏｒ　５００Ｖ　ｄｃ． 電壓輸出誤差范圍　　±３％ 為了使用者操作安全，短路時(shí)限流２ｍＡｃ　以下 Ｂｉｎ　Ｈａｎｄｌｅｒ模式（選購） 依照一般值或百分比設(shè)定高點(diǎn)１０段分類功能。 提供個(gè)別的Ｐａｓｓ／Ｆａｉｌ信號輸出。 內(nèi)建記憶體，可儲存１００組分類范圍設(shè)定，ＴＴＬ輸出至外接ｂｉｎ　ｈａｎｄｌｅｒ／２５ｐｉｎ　 Ｄ　ｔｙｐｅ　接頭 通訊測試模式（選購） 輸出信號位準(zhǔn)　　　　－２８至１６ｄＢｍ 測試時(shí)間依信號準(zhǔn)而有所有不同 Ｚｏ／Ｒｔ　　　　　　　　　５０－２０００Ω 一般測試時(shí)間　　　　＜１．５Ｓ 量測速度 在做阻抗，圈數(shù)比，直流電阻以及絕緣等測試時(shí)，共有４種測試速度可依同需求做適當(dāng)選擇，ＭＡＸｉｍｕｍ，ＦＡＳＴ， ＭＥＤｉｕｍ　及　ＳＬＯＷ ＭＡＸ（２５次／秒）適合于連接ＩＥＥＥ ４８８．２外部控制時(shí)使用 ＦＡＳＴ約１０次／秒 ＳＬＯＷ約１次／秒　適用于需要高精度度時(shí)． 量測范圍 Ｒ　　　　　　　　　　０．１ＭΩ　ＴＯ　＞　２ＧΩ＊ Ｌ　　　　　　　　　　０．１ｎＨ　ｔｏ　＞　１０００Ｈ　＊ Ｃ　　　　　　　　　　　５Ｆｆ　ｔｏ　＞　１Ｆ 精準(zhǔn)度 Ｌｎｄｕｃｔａｎｃｅ／Ｒａｃ／Ｚ／Ｃｐ　　±０．１％＊＊ Ｑ　　　　　　　　　　　　　　　±０．１％（Ｑ＋１／Ｑ）＊＊ Ｄ　　　　　　　　　　±０．００１％（１＋１／Ｄ２）＊＊ Ｔｕｒｎｓ　ｒａｔｉｏ　　　　　　±０．１％＊＊ Ｒｄｃ　　　　　　　　　　　　　　±０．５％ ｌｎｓｕｌａｔｉｏｎ　　±５％（５００Ｖ　ｔｅｓｔ） ｌｎｓｅｒｔｉｏｎ　Ｌｏｓｓ　　±０．１％ｄＢ Ｒｅｔｕｒｎ　Ｌｏｓｓ　　　±１％ｄＢ 精準(zhǔn)度依ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ，Ｚｏ，Ｒｔ，ｒａｎｇｅ，ｌｅｖｅ等設(shè)定不同而有所變化． ＊依測試速度不同而有所變化． ＊＊依頻率及選用功能不同而有所變化．