產(chǎn)品名稱： 精密LCR測(cè)試儀 
品  牌： HP 
產(chǎn)品型號(hào)： 4286A 
產(chǎn)品指標(biāo)： 1MHz-1GHz  
產(chǎn)品信息： Agilent4287A射頻LCR測(cè)試儀
Agilent 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠
4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非常快。此外，在小測(cè)試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。

系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。