界面針／定位針／ＢＧＡ針／直鋼針／絕緣針／離子針／微型探針探針根據電子測試用途可分為： Ａ、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；　　　 Ｂ、在線測試探針：ＰＣＢ線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；　　　 Ｃ、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片ＩＣ檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。　　 　探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。　　　 懸臂探針：劈刀型（Ｂｌａｄｅ　Ｔｙｐｅ）和環氧樹脂型（Ｅｐｏｘｙ　Ｔｙｐｅ）　　　 垂直探針：垂直型（Ｖｅｒｔｉｃａｌ　Ｔｙｐｅ）　　　 １．ＩＣＴ探針　（ＩＣＴ　ｓｅｒｉｅｓ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　 一般直徑在２．５４ｍｍ－１．２７ｍｍ之間，有業內的標準稱呼１００ｍｉｌ，７５ｍｉｌ，５０ｍｉｌ，還有更特別的直徑只有０．１９ｍｍ，主要用于在線電路測試和功能測試． 也稱ＩＣＴ測試和ＦＣＴ測試．也是目前應用較多的一種探針．　　　 ２．界面探針（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　 非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Ｔｅｒａｄｙｎｅ）和安捷倫（Ａｇｉｌｅｎｔ）．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．　　　 ３．微型探針（ＭｉｃｒｏＳｅｒｉｅｓ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　兩個測試點中心間距一般為０．２５ｍｍ至０．７６ｍｍ．　　　 ４．開關探針（Ｓｗｉｔｃｈ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　開關探針單獨一支探針有兩路電流．　　 ５．高頻探針（Ｃｏａｘｉａｌ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試１０ＧＨｚ以內的和５００ＭＨｚ不帶屏蔽圈的．　　 ６．旋轉探針（Ｒｏｔａｔｏｒ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于ＯＳＰ處理過的ＰＣＢＡ測試．　　　 ７．高電流探針（Ｈｉｇｈ　Ｃｕｒｒｅｎｔ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　探針直徑在２．５４ｍｍ－４．７５ｍｍ之間測試電流可達３９ａｍｐｓ．　　 ８．半導體探針　（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　Ｐｒｏｂｅｓ）　　　直徑一般在０．５０ｍｍ－１．２７ｍｍ之間．帶寬大于１０ＧＨｚ，５０Ω　ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃ　　 ９．電池接觸探針　（Ｂａｔｔｅｒｙ　ａｎｄ　Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ　Ｃｏｎｔａｃｔｓ）　　　一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長．　　 　除以上類型外還有溫度探針，Ｋｅｌｖｉｎ探針等，比較少用