CHY-C2  薄膜測厚儀
薄膜測厚儀產品名稱：測厚儀，薄膜測厚儀，紙張測厚儀，高精度測厚儀
薄膜測厚儀型號：CHY-C2
薄膜測厚儀價格：優惠促銷，歡迎致電0531-85068566咨詢！
薄膜測厚儀產品用途：適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
薄膜測厚儀產品特點：
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 手動、自動雙重測量模式
4. 數據實時顯示、自動統計、打印
5. 顯示最大值、最小值、平均值和統計偏差
6. 標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
7. 標準量塊標定
薄膜測厚儀技術參數：
1. 測量范圍：0～2mm（常規）
                   0～6mm；12mm（可選）
2. 分 辨 率：0.1μm 
3. 測量速度：10次/min（可調）
4. 測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張） 
5. 接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張） 
           注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
薄膜測厚儀標準配置：主機、微型打印機、標準量塊一件
薄膜測厚儀依據標準：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
薄膜測厚儀關鍵字：測厚儀，薄膜測厚儀，紙張測厚儀，高精度測厚儀
更多信息歡迎登錄：www.labthink.cn，或來電咨詢！