禾苗分析專注于膜厚分析儀的研發、設計、生產，提供各類鹵素檢測儀x2034d9n、光譜儀、ROHS測試儀，品類齊全、技術領先、性價比高，目前公司已在國內核心城市設立常駐銷售與服務網點。詳情請咨詢張先生18319999072。

   一直以來，深圳市禾苗分析儀器有限公司潛心鉆研禾苗HELEEX品牌的行業客戶需求，為客戶量身定制需求及解決方案。禾苗分析的優勢不僅在于ROHS測試儀的圖片業界的領先技術和精銳的專業團隊，還在于提供卓越的X射線熒光光譜儀、RoHS儀器、鍍層測厚儀服務能力，更在于積極創新的熱情和尊重承諾的信念。成為客戶可信賴的最有效方法的鹵素檢測儀綜合服務商，助力客戶實現RoHS檢測的業務價值，是禾苗分析始終不渝的使命和追求。 延伸拓展 產品詳情：膜厚測試儀在什么條件下測量更準確 基體金屬特性 對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 曲率 不應在試件的彎曲表面上測量。 讀數次數 通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。 表面清潔度 測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。 膜厚測試儀自制鐵基情況及方法 膜厚測試儀在一些精確測量時需用戶自制鐵基，這樣測量情況主要有以下幾種： a、測量精度要求甚高； b、材質（或導磁率）與儀器鐵基相差甚遠； c、工件幾何形狀復雜； d、工件厚度在2mm以下。 用下述方法自制鐵基: a、用與被測工件厚度相同、材質相同的剛才做成方形或圓形鐵基，滄州歐譜要求表面平整光潔、無涂層或銹蝕，尺寸不小于本儀器所具備鐵基尺寸； b、用已清除污物、表面光潔、無涂層的工件毛坯做鐵基。以同種工件毛坯作鐵基校正是最好的方法。詳情參考滄州歐譜檢測儀器有限公司膜厚測試儀儀器使用說明書。

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