禾苗分析專注于ROHS儀的研發、設計、生產，提供各類XRF、ROHS測試儀、合金分析儀，品類齊全、技術領先、性價比高，目前公司已在國內核心城市設立常駐銷售與服務網點。詳情請咨詢張先生18319999072。

   “吸納優秀人才、構筑專業團隊、提供高端服務”是禾苗分析的宗旨；“渴望了解客戶的每一個需求，用心服務客戶的每一個環節，全力支持客戶的每一步發展”是禾苗分析的服務理念。深圳市禾苗分析儀器有限公司愿意充分發揮自身的禾苗HELEEX品牌優勢，通過自己勤奮、認真負責、具有開拓性的工作，為廣大客戶提供最完美的RoHS檢測產品及服務。 延伸拓展 產品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據要測量的涂層厚度，選擇 適當的標準膜片，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

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